Rasterelektronenmikroskop (REM)
Gerätetyp: JEOL JFC-1200 Fine Coater
Proben werden zunächst durch Beschichtung mit Gold vorbereitet. Die Proben können sowohl als Pulver vorliegen oder als Festkörper, auch Membranen können untersucht werden. Das sogenannte „Sputtern“ erhöht die Leitfähigkeit, um eine Aufladung der Probe zu verhindern.
Gerätetyp: JEOL JSM-6510
Das Rasterelektronenmikroskop kann hochauflösende Bilder der Proben aufnehmen. Je nach Probe, können Bilder mit einem Vergrößerungsfaktor von bis zu x30.000 aufgenommen werden. Die Proben müssen für die Messung vakuumstabil sein und dürfen während der Messung nicht ausgasen. Die Proben werden zur Bildaufnahme mit einem Elektronenstrahl mit einer Beschleunigungsspannung von bis zu 20 kV bestrahlt. Als Elektronenquelle dient eine LaB6-Kathode.
Gerätetyp: Bruker XFlash Detector 410-M
Der zusätzliche EDX-Detektor ermöglicht die Aufnahme energiedispersiver Röntgenspektren. Damit ist eine qualitative Analyse der Zusammensetzung möglich, sowie eine halbquantitative Bestimmung der Elemente schwerer als Fluor. Über das EDX-Mapping ist zudem die Verteilung von Elementen innerhalb einer Probe bestimmbar.
Kontakt:
Annette Vollrath Phone: 0211/81-12292, e-mail:
Marcus Fetzer, Phone: 0211/81-12292, e-mail: